【运维小能手】错误的测试方法导致“插损”测试值超标

无名小卒X
无名小卒X  Diamond  (1)
5 years 7 months ago  View: 3321  Reply: 2
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【系统概述】

某干线波分设备,某期工程只上了一波业务,现在进行工程系统验收测试。


【故障现象】

在测试某OTM站点的D16“插损”时,把上游传送过来的波分信号作为测试信号,用光功率计分别测试D16的输入输出光功率,测试值超标,为10dB,而一般来说D16的插损在6dB左右。


【故障分析及排除】

(1)    检查光功率计,波长设置是“1550nm”。

(2)    检查D16IN口,和对应输出口,没有出现端口法兰盘松动、脏乱,单板没有问题。

(3)    后用光谱分析仪测试输入输出光功率,并算出插损,结果为6.32dBm,正常。

(4)    分析得知,用光功率计测试时测试方法不正确。因为波分设备一般使用了大量的EDFA模块,信号到达接收端时,积累了大量的噪声。这个时候用光功率计测试的输入光功率“偏大”。而D16分波,有隔离噪声的功能,所以输出信号一下小很多,导致“插损”偏大。

(5)    用光谱分析仪测试插损,正常;或者用本站点OTU作为测试源,用光功率计测试,正常。


【结论和建议】

“插损”指标对分波器而已,是某个波长信号的插损值,所以测试用信号必须是标准波长的信号。如果用光功率计测试,那么不能用上游站点过来的G.692信号作为测试光源,因为信号中有大量噪声,光功率计分辩不出。测试时,可以用光谱分析仪测试,或者用本站点OTU作为测试光源。

JackyLi
JackyLi  Senior 
5 years 7 months ago
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学习了,感谢分享^v^
tongtong1204
tongtong1204  Silver 
5 years 7 months ago
3F
感谢分享......